日本理學(xué)波長色散XRF光譜儀利用分光晶體的衍射來分離樣品中的多色輻射，能量色散光譜儀則利用探測器中產(chǎn)生的典雅脈沖和脈高分析器來分辨樣品中的特征射線。

理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數(shù)4以上的所有化學(xué)元素，分析精度高，樣品制備簡單。

應(yīng)用領(lǐng)域
 

1、非常適合在大、中、小型水泥廠（單、雙窯）做質(zhì)量過程控制使用。可用于分析原料（如石灰石、沙土、礬土、菱鎂礦和其他礦物）中主量和次量氧化物的定性和定量分析;水泥生料、熟料樣品中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl、TO2等常規(guī)元素的測定。

2、鋼鐵行業(yè)的應(yīng)用：依據(jù)GB/T 223.79-2007測定Si、Mn、P、S、Cu、A、Ni、Cr、Mo、V、Ti、W、Nb元素。

3、其它行業(yè)的應(yīng)用：石油中的S、P測定，玻璃、陶瓷、有色金屬、礦業(yè)、地質(zhì)、化工、質(zhì)量檢驗(yàn)等。